低成本DDR3、DDR4高速存储器测试解决方案

下载PDF

导出

摘要 HSM3G高速存储器测试解决方案进一步拓展了面向DDR3主流存储器IC和更高级存储器件测试的V93000HSM平台。 V93000 HSM3G独特的优势在于其未来的可升级性，速度和功能将来都可以升级，其可编程的、快速的每引脚APG能力得到了数据总线倒置（DBI）和循环冗余校验码（CRC）数据的支持，

出处《今日电子》 2010年第9期69-69,共1页 Electronic Products

关键词高速存储器测试解决方案低成本循环冗余校验码器件测试可升级性数据总线可编程

分类号 TN929.533 [电子电信—通信与信息系统]

引文网络
相关文献

1孙丽君.惠瑞捷推出HSM3G高速存储器测试解决方案[J].世界电子元器件,2010(9):71-71.
2惠瑞捷推出全新的HSM3G高速存储器测试解决方案[J].半导体技术,2010,35(9):953-953.
3惠瑞捷HSM3G高速存储器测试方案为未来三代内存提供低廉测试成本[J].电子技术应用,2010,36(8):8-8.
4丛秋波.全新可升级ATE保障未来三代器件需求[J].电子设计技术 EDN CHINA,2010(9):17-17.
5爱德万测试发布全新低成本高速存储器测试解决方案T5851测试系统[J].中国集成电路,2016,0(9):8-8.
6贾春亮,周建华,胡剑平.一种新型多模式高速存储器[J].遥测遥控,2013,34(2):68-71. 被引量：1
7李华.高速存储器的大规模并行测试[J].国外电子测量技术,2006,25(8):80-80.
8TCL B66-P B66-L液晶电视[J].数码精品世界,2006(1):28-28.
9王怀亮,徐志华,严锦荣,李亚婷,姜丰,周子翔.基于统计算法的DDR4 DQ信号误码率眼图的实现[J].电子科技,2015,28(7):124-128. 被引量：2
10灿芯半导体DDR4 IP以40nm工艺实现2400 Mbps速率[J].中国集成电路,2016,0(12):1-2.

今日电子

2010年第9期

浏览历史

内容加载中请稍等...

低成本DDR3、DDR4高速存储器测试解决方案

相关作者

相关机构

相关主题

浏览历史