摘要
基于P+n平面结构Ge-APD的工作原理,介绍了采用Ge-APD作为光电转换器件,并配以微带电路和取样技术来测量Ge-APD对快速光脉冲响应时间的方法.
The operational principle of Ge-APD was introduced. The measurement of Ge--APD quick optical-electric transducer , micro band circuit and sampling technique were presented.
出处
《德州学院学报》
2010年第4期15-18,共4页
Journal of Dezhou University
基金
绥化学院科学技术研究项目(K1002001)