期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
全新可升级ATE保障未来三代器件需求
原文传递
导出
摘要
存储器制造商一直在寻找一种既能满足其生产和功能需求又能提供比一代器件寿命更长、投资价值更高的节约型ATE解决方案。
作者
丛秋波
出处
《电子设计技术 EDN CHINA》
2010年第9期17-17,共1页
EDN CHINA
关键词
V93000
HSM3G
DDR4
存储器测试
VERIGY
分类号
TN386.1 [电子电信—物理电子学]
引文网络
相关文献
节点文献
二级参考文献
0
参考文献
0
共引文献
0
同被引文献
0
引证文献
0
二级引证文献
0
1
低成本DDR3、DDR4高速存储器测试解决方案[J]
.今日电子,2010(9):69-69.
2
孙丽君.
惠瑞捷推出HSM3G高速存储器测试解决方案[J]
.世界电子元器件,2010(9):71-71.
3
惠瑞捷推出全新的HSM3G高速存储器测试解决方案[J]
.半导体技术,2010,35(9):953-953.
4
惠瑞捷HSM3G高速存储器测试方案为未来三代内存提供低廉测试成本[J]
.电子技术应用,2010,36(8):8-8.
5
Verigy V93000推出Port Scale射频测试解决方案[J]
.今日电子,2007(10):119-119.
6
王怀亮,徐志华,严锦荣,李亚婷,姜丰,周子翔.
基于统计算法的DDR4 DQ信号误码率眼图的实现[J]
.电子科技,2015,28(7):124-128.
被引量：2
7
灿芯半导体DDR4 IP以40nm工艺实现2400 Mbps速率[J]
.中国集成电路,2016,0(12):1-2.
8
刘燕.
DDR4SDRAM的EMC设计探讨[J]
.电子世界,2017,0(7):24-26.
被引量：1
9
安捷伦将分割成立的半导体测试公司命名为Verigy[J]
.今日电子,2006(2):60-60.
10
惠瑞捷可扩展测试机台系列降低新一代IC测试成本[J]
.电子质量,2011(8):55-55.
电子设计技术 EDN CHINA
2010年 第9期
职称评审材料打包下载
相关作者
内容加载中请稍等...
相关机构
内容加载中请稍等...
相关主题
内容加载中请稍等...
浏览历史
内容加载中请稍等...
;
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
