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一种基于动态迁移技术的寄存器保护方法

Register Protecting Method Based on Live Migration Technology
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摘要 在强辐射环境中,寄存器会受到高能粒子冲击而发生位翻转导致寄存器内容发生变化,称这种现象为寄存器故障。对关键寄存器进行定义,提出一种寄存器保护模型,通过动态申请系统当前空闲的寄存器作为关键寄存器的备份,在运行过程中运用动态迁移技术对关键寄存器进行保护,使寄存器自身具有一定的容错能力。 In the radiation-hardened environment, registers are prone to SEU phenomenon because of energetic particle impaction, called register faulty. This paper proposes a method of register protection, dynamically requests the currently idle register to be the backup of the essential register as well as taking advantage of live migration technology during program progress to introduce protection for the essential registers, enabling registers themselves to have kind of fault-tolerant ability.
作者 胡志丹 窦勇
出处 《计算机工程》 CAS CSCD 北大核心 2010年第17期274-276,共3页 Computer Engineering
基金 国家"863"计划基金资助项目"面向生物信息学领域的动态可重构算法加速器体系结构研究"(2007AA01Z106)
关键词 寄存器故障 关键寄存器 动态迁移 register faulty essential register live migration
  • 相关文献

参考文献2

  • 1赵玉清,王炎武.几种SOI结构的重粒子与质子辐照模拟研究[C] //全国荷电粒子源、粒子束学术会议论文集.武汉:[出版者不详] ,2006.
  • 2贺朝会.单粒子效应研究的现状和动态.抗核加固,2000,17(1):82-82.

共引文献5

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