期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
惠瑞捷推出HSM3G高速存储器测试解决方案
下载PDF
职称材料
导出
摘要
惠瑞捷（Verigy）推出了全新的HSM3G高速存储器测试解决方案，进一步拓展了面向DDR3世代主流存储器Ic和更高级存储器件测试能力的V93000HSM平台。
作者
孙丽君
出处
《世界电子元器件》
2010年第9期71-71,共1页
Global Electronics China
关键词
测试解决方案
高速存储器
测试能力
存储器件
IC
分类号
TN929.533 [电子电信—通信与信息系统]
引文网络
相关文献
节点文献
二级参考文献
0
参考文献
0
共引文献
0
同被引文献
0
引证文献
0
二级引证文献
0
1
惠瑞捷推出全新的HSM3G高速存储器测试解决方案[J]
.半导体技术,2010,35(9):953-953.
2
惠瑞捷HSM3G高速存储器测试方案为未来三代内存提供低廉测试成本[J]
.电子技术应用,2010,36(8):8-8.
3
低成本DDR3、DDR4高速存储器测试解决方案[J]
.今日电子,2010(9):69-69.
4
爱德万测试发布全新低成本高速存储器测试解决方案T5851测试系统[J]
.中国集成电路,2016,0(9):8-8.
5
丛秋波.
全新可升级ATE保障未来三代器件需求[J]
.电子设计技术 EDN CHINA,2010(9):17-17.
6
贾春亮,周建华,胡剑平.
一种新型多模式高速存储器[J]
.遥测遥控,2013,34(2):68-71.
被引量：1
7
李华.
高速存储器的大规模并行测试[J]
.国外电子测量技术,2006,25(8):80-80.
8
TCL B66-P B66-L液晶电视[J]
.数码精品世界,2006(1):28-28.
9
张登军.
高速存储器中的SPI接口电路设计[J]
.大众科技,2013,15(4):34-35.
10
郝政宇,刘书明.
FPGA片内高速存储器的设计和应用[J]
.电子工程,2007(4):12-16.
被引量：1
世界电子元器件
2010年 第9期
职称评审材料打包下载
相关作者
内容加载中请稍等...
相关机构
内容加载中请稍等...
相关主题
内容加载中请稍等...
浏览历史
内容加载中请稍等...
;
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部
