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惠瑞捷推出全新的HSM3G高速存储器测试解决方案

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摘要 2010年7月23日,惠瑞捷(Verigy)推出了全新的HSM3G高速存储器测试解决方案,进一步拓展了面向DDR3世代主流存储器Ic和更高级存储器件测试能力的V93000HSM平台。V93000HSM3G独特的优势在于其未来的可升级性,能够为数据传输速度高达6.8Gb/s未来的三代DDR存储器提供价格低廉的测试服务,从而前所未有地长期节约经济成本。V93000HSM3G的速度和功能将来都可以升级,
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 2010年第9期953-953,共1页 Semiconductor Technology
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