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安捷伦与创毅视讯宣布完成TD-LTE芯片的射频性能测试

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摘要 测试设备制造商一安捷伦科技与TD-LTE芯片制造商一创毅视讯目前宣布,双方已合作完成TD—LTE的数据卡射频性能的测试。本测试参考3GPPLTE规范及创毅视讯测试需求,基于安捷伦的N5182A信号发生器及N9020A信号分析仪平台完成。本次联合测试遵循3GPP标准规定的第六章及第七章的芯片发射机及接收机的测试规范,这也是两家公司一次成功的合作。
出处 《电子与电脑》 2010年第10期98-99,共2页 Compotech

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