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集成电路测试系统的加流测压及加压测流设计 被引量:1

Development of Test System FVMI and FIMV
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摘要 在集成电路的测试中,通常需要给所测试的集成电路提供稳定的电压或电流,以作测试信号,同时还要对信号进行测量,这就需要用到电压电流源;测试系统能作为测试设备的电压电流源,实现加压测流和加流测压功能。且具有箝位功能,防止负载电压或电流过大而损坏系统。应用结果表明,该检测系统运行稳定可靠,测量精度高。 In IC test equipment,it needs some stable voltage source or current source as test signal.This system can make the FVMI and FIMV function handled simultaneously.It will take the self-protect function when the load voltage or load current exceeds the clamp value which set by the programmer.The application shows that this system runs stably and accurately.
出处 《电子工业专用设备》 2010年第9期45-47,51,共4页 Equipment for Electronic Products Manufacturing
关键词 集成电路测试 电压电流源 加压测流 加流测压 箝位 IC test VI source FVMI FIMV Clamp value
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