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X射线断层扫描测量技术：精确的CT测量技术极大优化工艺过程

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摘要来自卡尔蔡司的X射线断层扫描测量技术（Metrotomography）已经在业界牢牢占据了领先地位。该技术为世界各地的消费类商品、汽车和医疗器械行业的多种应用提供解决方案。由于提供的数据量多而全，因此在缩短研发周期、提升初始样本测试结果分析能力，

出处《模具工程》 2010年第10期50-50,共1页 Mould &Die Project

关键词测量技术断层扫描 X射线工艺过程优化极大 CT 医疗器械行业

分类号 O434.1 [机械工程—光学工程]

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模具工程

2010年第10期

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