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CdTe单晶中主要中性受主束缚激子起因的研究
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摘要
本文使用高纯度和高品位的单晶材料,通过Cu掺杂和退火实验,利用光致发光研究了CdTe发光光谱中1.5896eV处的主要中性受主束缚激子发光的起因.结果表明,该发光峰实际上是由能量极其相近的两个发光峰构成.它们具有两个起因,其中能量较低的一个是CuCd,另一个与Cd空位VCd有关.
作者
杨柏梁
石川幸雄
一色实
机构地区
中国科学院长春物理研究所
日本东北大学素材工学研究所
出处
《Journal of Semiconductors》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1999年第7期548-553,共6页
半导体学报(英文版)
关键词
碲化镉
单晶
发光峰
实验
分类号
TN304.25 [电子电信—物理电子学]
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Journal of Semiconductors
1999年 第7期
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