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X射线荧光光谱法测定粉煤灰中多种组分
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摘要
本文采用玻璃熔片X射线荧光光谱法测定粉煤灰中SiO2、Al2O3等多种组分。试验了试样的前处理，讨论了标准样品的选用，确定最佳的制样条件和分析条件，建立工作曲线。通过精密度和准确度的试验，表明本方法稳定、准确可靠。
作者
刘伟
机构地区
技术中心
出处
《太钢科技》
2010年第3期41-44,共4页
Taigang Science & Technology
关键词
X射线荧光光谱
玻璃熔片
粉煤灰
分类号
O657.34 [理学—分析化学]
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