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机内自检技术的研究被引量：1

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摘要随着存储器容量的增加,要求测试速度也得跟上。本文介绍了机内自检(BIST)技术,它的发展与应用。

作者张迎春晓菁魏震生

出处《国外电子测量技术》 1999年第3期9-9,13,共2页 Foreign Electronic Measurement Technology

关键词 BIST 存储器可测试性机内自检

分类号 TP333.062 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]

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国外电子测量技术

1999年第3期

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