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微处理器软核的测试算法
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摘要
针对微处理器软核测试程序工艺无关性的要求,我们提出了一种新的寄存器传输级的微处理器功能测试算法。新算法扩展了微处理器的模型表示,简化了指令的故障类型,新的指令测试方法有效地降低了测试程序的复杂度。采用该测试算法我们为自行设计的一个八位微处理器核成功地开发了测试程序。
作者
梁松海
周润德
机构地区
清华大学微电子所
出处
《电子测试》
1999年第6期12-15,35,共5页
Electronic Test
关键词
微处理器软核
设计
测试
算法
分类号
TP332.02 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
TP332.062 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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电子测试
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