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E5015(J507)焊接件内部缺陷在射线探伤底片中评判

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摘要 射线探伤是检查焊缝内部缺陷的主要方法之一,对透照底片的评判非常重要。本文以E5015(J507)焊接件内部缺陷为例,详细分析阐述了射线探伤底片的评判过程。
作者 刘庭福
出处 《科技创新导报》 2010年第29期100-100,共1页 Science and Technology Innovation Herald
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