国外新型检测设备和仪器的特点——“QualityExpo”′87展品介绍

1987年在美国举行的Quality Expo第七届年会上,首次展出了许多新型坐标测量机、光学测量系统和其它用于质量保证和测量的新产品。本文对上述情况作了介绍。