摘要
对纳米级测量系统进行标定是一个难题。结合某一外差干涉测量系统,提出了一个对测量系统的分辨力、输入输出特性进行标定的简单易行的方法。
It is a difficult to demarcate a measurement system which accuracy is within in nanometre order. Puts forward a simple method to demarcate the input output characteristic and resolution of the measurement system of heterodyne interference.
出处
《宇航计测技术》
CSCD
1999年第2期16-21,共6页
Journal of Astronautic Metrology and Measurement
关键词
外差法
干涉测量系统
标定
分辨力
纳米级
Heterodyne method\ Interferometric measurement\ Demarcation Input output characteristic\ Resolution