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一种测量光具组基点的新方法
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1
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摘要
介绍了一种测量光具组基点的新方法。由于采用线阵光电耦合器件(CCD)测量物经光学系统成像的横向放大率,使实验具有精度高、操作简便等优点。
作者
史海青
刘竹琴
机构地区
陕西能源职业技术学院基础部
延安大学物理与电子信息学院
出处
《延安职业技术学院学报》
2010年第5期59-61,共3页
Journal of Yan’an Vocational & Technical College
关键词
光具组
基点
横向放大率
分类号
O435.2 [机械工程—光学工程]
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