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工程表面粗糙度两用测量系统 被引量:5

Synthesis Measuring System for Engineering Surface Roughness
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摘要 介绍了一种新型工程表面粗糙度两用测量系统的设计原理、仪器结构及测试结果。该系统可采用接触法和非接触法两种测量方式,接触法测量范围达±100μm,最小分辨率为0.005μm;非接触法测量范围达±250μm,最小分辨率为0.01μm。 The principle,structure and experiment results of a surface roughness synthesis measuring system are introduced.The system can be operated by contact or non contact measuring method.The maximum vertical measuring range by the contact method can reach ±100μm with a minimum resolution of 0.005μm and that by the non contact method can reach ±250μm with a minimum resolution of 0.01μm.
出处 《工具技术》 北大核心 1999年第4期28-30,共3页 Tool Engineering
基金 国家自然科学基金
关键词 表面粗糙度 接触测量法 聚焦探测法 测面系统 surface roughness contact measuring method focus measuring method
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参考文献2

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共引文献3

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