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国内半导体器件的可靠性筛选技术
被引量:
7
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摘要
回顾了80年代以来国内器件厂广泛应用的在高可靠器件发展过程中已发挥了重要作用的可靠性筛选技术。
作者
丁继善
机构地区
成都无线电三厂
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1999年第3期55-57,共3页
Semiconductor Technology
关键词
筛选项目
筛选条件
半导体器件
可靠性
分类号
TN306 [电子电信—物理电子学]
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