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数字散斑干涉技术在形貌测量中的应用及进展 被引量:3

Application of digital speckle interferometric technique to topographic measurement and its development
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摘要 介绍了数字散斑干涉技术用于形貌测量的基本原理及其发展,对几种主要的测量方法进行了分类与对比,分析了各种方法的特点。 Application of digital speckle interferometric to topographic measurement, as well as its development, is described. The main methods involved in this technique were sorted and compared with each other. The feature of all methods is discussed and finally the prospective application in industry is also given.
机构地区 哈尔滨工业大学
出处 《宇航计测技术》 CSCD 1999年第3期45-50,共6页 Journal of Astronautic Metrology and Measurement
关键词 数字技术 散斑 干涉测量 形貌测量 Digital technique\ Speckle Interferometric measurement Topographic measurement
  • 相关文献

参考文献5

  • 1方强,全息散斑计量学,1995年
  • 2Zou Y,Optics,1993年,94卷,155页
  • 3Peng X,Optics,1992年,90卷,61页
  • 4Peng X,Optics,1992年,91卷,81页
  • 5Shi D,Proc.SPIE A,1991年,1554期,680页

同被引文献15

  • 1柴东,王亮亮,于瀛洁.基于ESPI技术的物体缺陷自动识别技术[J].光学精密工程,2005,13(z1):173-178. 被引量:4
  • 2刘中本,卢石镐.相移电子散斑干涉法测量面内变形[J].西安工业学院学报,1994,14(2):85-89. 被引量:4
  • 3武勇军,李向,曹芒,李达成.超精加工表面粗糙度的激光测量仪[J].应用激光,1996,16(2):60-62. 被引量:8
  • 4Steadman TV, Dixson RG, Tsai V, et al.Problems in surface metrology[J].Int J Mach Tools Manufact,1998,38(5/6):412-418.
  • 5马良珵.应变电测与传感技术[M].北京:中国计量出版社,1993..
  • 6Gu C, Peiponen KE, Silvennoinen R, et al.A simple proximity sensor for metal surface quality monitoring[J].Precison Engineering,1994,16(3):219-223.
  • 7Hern E J. Mechanics of Materials[M]. Watford, England: Merrow Publishing Co., 1975: 254-275, 428-443.
  • 8Hern E J. Photoelastic Coatings for Strain Measurement[M]. Watford, England: Merrow Publishing Co., 1971.
  • 9Steadman T V, Dixson R G, Tsai V, et al. Problems in Surface Metrology[J]. Tools Manufact, 1998, 38(5/6): 412-418.
  • 10Gu C, Peiponen K E, Silvennoinen R, et al. A Simple Proximity Sensor for Metal Surface Quality Monitoring[J]. Precision Engineering, 1994, 16(3): 219-223.

引证文献3

二级引证文献10

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