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用于高低温落锤试验的单片机测控系统

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摘要 本文介绍了用于高低温落锤试验的单片机测控系统的电路原理及主程序框图,系统的抗干扰和提高可靠性的措施,结论是该系统达到了落锤冲击试验方法标准的要求。
作者 吴健华
机构地区 金华试验机总厂
出处 《试验技术与试验机》 1990年第6期33-35,共3页 Test Technology and Testing Machine
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