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ABB推出新型光学厚度传感器

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摘要 2009年3月,ABB在罗里达州奥兰多市举办的“2009届自动化和电力世界”研讨会上推出新型光学厚度传感器(OC),此传感器采用共焦光学检测技术,克服了原有接触式在线厚度传感器的接触滑板可能会引起的纸张质量问题,
作者 周燕
出处 《中华纸业》 CAS 北大核心 2010年第6期91-91,共1页 China Pulp & Paper Industry

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