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有源矩阵液晶显示器的缺陷检测 被引量：1

Study on Defect Test of Active Matrix Liquid Crystal Display
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摘要 分析了ＶＧＡ有源矩阵液晶显示器的缺陷分类、产生原因。研制出了有源矩阵液晶显示器的断路测试板、短路测试板以及全板显示测试板。 The defect classification and the reason forming defect of VGA thin film transistor active matrix liquid crystal displays are analysed.Open tester,short tester and display tester are developed.
作者 葛长军 成建波 杨开愚
机构地区 电子科技大学光电子技术系
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1999年第2期36-39,43,共5页 Semiconductor Technology
关键词 有源矩阵 液晶显示 缺陷 测试板 VGA Active matrix liquid crystal display Defect Tester
分类号 TN141.907 [电子电信—物理电子学] TN873.93 [电子电信—信息与通信工程]
  • 相关文献

参考文献2

共引文献9

同被引文献11

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引证文献1

二级引证文献9

半导体技术
1999年 第2期

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