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有机锡化合物的光电子能谱和质谱研究Ⅲ 被引量:1

X Ray Photoelectron Spectroscopy and Mass Spectrum of Organic Tin Compounds
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摘要 本文利用光电子能谱(XPS)和质谱(MS)研究了12种有机锡化合物。通过XPS和MS讨论了化合物中取代基对锡内层电子的影响及对SnO键的影响。结果表明XPS和MS对有机锡化合物某些化学键性质的讨论具有互补性。 The relationship between the chemical displacement of the binding energy and the different chemical environment for 12 organic tin compounds was studied by means of X ray photoelectron spectronscopy.The different substituents in the compounds have influence on the tin outer electron and Sn O bond,which was discussed by X ray photoelectron spectroscopy and mass spectrum.
出处 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 1999年第2期142-144,共3页 Spectroscopy and Spectral Analysis
关键词 XPS MS 结合能 电子云 有机锡 XPS, MS, Binding energy, Electron cloud
  • 相关文献

参考文献4

  • 1王如骥,化学学报,1989年,47卷,209页
  • 2印永嘉,大学化学手册,1985年,44页
  • 3T A 卡尔森,光电子和俄歇能谱学,1983年,164页
  • 4福井谦一,图解量子化学,1981年,19页

同被引文献6

引证文献1

二级引证文献12

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