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从原子水平检测硅材料的技术出炉

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摘要 美北卡罗菜纳州立大学科学家们研究出一种先进的方法,能从原子尺度分析出硅材料里的组合成分。这种技术增进了人们对原子结合形式的理解和控制,有望改善硅材料的结构性能,开发高效微晶片和新型设备。
出处 《激光与光电子学进展》 CSCD 北大核心 2010年第12期I0012-I0012,共1页 Laser & Optoelectronics Progress
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