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膨胀系数匹配对电子产品可靠性的影响 被引量:9

Reliability Analysis of CTE Matching in Electronic Circuits
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摘要 从元器件、基板和焊料等材料膨胀系数的匹配问题入手,对由于膨胀系数不匹配所造成的产品生产过程中的质量隐患,及其对产品工作可靠性的影响进行了分析。结合分析结果,提出了针对该问题的设计和工艺措施。 In this paper,the quality problems due to the CTE mismatching of components,substrates and solders in the process and its effect on the operational reliability of the product are analyzed.The design and processing actions for solving the problems are presented based on the analysis result.
作者 成钢
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 2010年第6期32-36,共5页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词 元器件 膨胀系数 失配 可靠性 component coefficient of temperature expansion(CTE) mismatching reliability
  • 相关文献

参考文献3

  • 1刘君恺.PCB设计对电子元器件散热性能之影响.表面粘着技术,2000,31:5-8.
  • 2IPC-4010-1997,Specification for base materials for rigid and multilayer printed boards[S].
  • 3IPC-D-279-1996,Design guideline for reliable surface mount technology printed board assemblies[S].

同被引文献25

引证文献9

二级引证文献6

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