摘要
当我们对厚度差较大的工件进行射线探伤时,常会采用双片技术,即用一个暗盒内装不同感光度的两张胶片,照相后,对黑度较大部位,用单片观察其影象,而对黑度较小部位,则可将双片重叠进行观察,以有利于缺陷的评定.下面就双片叠加时的黑度进行分析.1 理论分析由黑度定义可知,黑度D=lg(L_0/L)式中 L_0—入射光强度L—透射光强度如附图所示,设1号底片黑度为 D_1,2号底片黑度为D_2,双片叠加时黑度为D_3;那么对于1号底片D_1=lg(L_0/L_1)对于2号底片D_2=lg(L_1/L_2)
出处
《无损检测》
1999年第8期376-376,共1页
Nondestructive Testing
