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干涉法表面形貌测量使用的扩展深度测量范围的方法 被引量:5

Method for Expanding the Depth Measuring Range in the Surface Topography Measurement by Interferometry
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摘要 系统归纳了在干涉法表面形貌测量中使用的用来扩展深度测量范围的各种方法,分析了这些方法的原理、特性及性能指标,比较了这些方法的优越性。 The existing various methods used to expand the depth measuring range for measurement of the surface topography with interferometry were described, their principle and property were analyzed, and their superiority was compared.
作者 周明宝
出处 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 1999年第4期1-8,共8页 Optics and Precision Engineering
关键词 干涉 表面形貌 测量 多波长法 白光干涉法 Interferometry, Topography, Measurement
  • 相关文献

参考文献7

  • 1有宝.衍射光学元件表面形貌三维测量方法研究:博士学位论文[M].成都:四川联合大学,1998..
  • 2考洛米佐夫.干涉仪的理论基础及应用[M].北京:技术标准出版社,1982..
  • 3周明宝,博士学位论文,1998年
  • 4Cheng Y,Appl Opt,1985年,24卷,6期,804页
  • 5Creath K,Opt Acta,1985年,32卷,12期,1455页
  • 6Cheng Y,Appl Opt,1984年,23卷,24期,4539页
  • 7考洛米佐夫,干涉仪的理论基础及应用,1982年

共引文献1

同被引文献93

引证文献5

二级引证文献34

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