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原子荧光仪异常荧光值和荧光谱图对分析结果的影响及纠正

Effect of Abnormal Fluorescence Value and Malformed Fluorescence Spectrogram on AFS Testing and Its Correction
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摘要 根据原子荧光仪实际检测操作过程中出现异常数据和谱图,分析其原因及其对分析结果的影响,并在介绍实践过程中采取相应的纠正方法。 The problems in AFS testing according to the abnormal fluorescence value and malformed fluorescence spectrograme were discussed,while its reason and effect of results were analyzed,and the relevant ways to resolve were also advised.
作者 陈韵
出处 《光谱实验室》 CAS CSCD 北大核心 2011年第1期310-313,共4页 Chinese Journal of Spectroscopy Laboratory
基金 广东省科技计划资助项目(2005B33001004)
关键词 原子荧光光谱法 荧光值 荧光图谱 Atomic Fluorescence Spectrometry Fluorescence Value Fluorescence Spectrogram
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