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半导体激光器热特性测量技术的研究进展 被引量：2

Review on Measuring Technologies for Thermal Characteristics of Semiconductor Lasers
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摘要 分类讨论了半导体激光器热特性(温升)测量中所用的技术,介绍了各种技术的基本原理及其特点。 Technologies used for measuring the thermal characteristics of semiconductor lasers were discussed. Their basic principles, advantages and disadvantages were presented.
作者 杨明伟 杨远洪
机构地区 北京航空航天大学仪器科学与光电工程学院
出处 《半导体光电》 CAS CSCD 北大核心 2010年第6期834-837,944,共5页 Semiconductor Optoelectronics
关键词 半导体激光器 热特性 温升 semiconductor laser thermal characteristic temperature rise
分类号 TN248.4 [电子电信—物理电子学]
  • 相关文献

参考文献20

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二级参考文献4

共引文献3

同被引文献18

引证文献2

二级引证文献7

半导体光电
2010年 第6期

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