镀膜光纤探针无透性的一种检测方法

在近场光学显微镜的研制过程中，制备合适的探针是一个重要的环节。在腐蚀法制得的光纤尖端附近镀铝膜后，采用扫描电子显微镜中的样品充电效应可检测出探针透光点的分布情况，亦可直接用电镜观察膜表面的均匀性，这对提前剔除不良探针有重要作用。