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多功能数字芯片测试仪的设计与应用 被引量:8

Design and application of multifunctional digital chip testing instrument
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摘要 集成电路芯片已经成为现代电子设备中大量使用的电子元器件,集成电路芯片的检测是电子设备故障排除中的一项重要工作。建立了固定型故障模型,并以HT46RU24为核心设计一种数字芯片测试仪,通过测试码控制并测试硬件的运行情况,把测试结果与准确值比较,自动给出正误判断的结果。该仪器能完成20脚以内TTL系列和CMOS系列数字集成电路芯片的测试,并带有网络通信接口。实践证明,该仪器具有体积小、重量轻、成本低、人机界面友好、操作方便和可靠性高等优点,具有较高的实用价值。 The IC chip has already become the vast used electronic component in modern electronic equipment,so IC chip detecting is an important task in electronic equipment trouble removal.A stuck-at fault model is built,and then a kind of digital chip testing instrument is designed based on HT46RU24 as technical core.By using the test code to control and test the operation conditions of hardware,and then comparing the test result with the correct value,the right and wrong results are automatically judged.This instrument,with the interface of network communication,is able to accomplish the test of digital IC chips about the series of COMS and TTL with less than 20 cruses.It is proved that the instrument has higher practical value with various merits such as small volumes,light weight,low price,the kind man-machine interfaces,convenient handling and high reliability,etc.
作者 肖宝森
出处 《实验技术与管理》 CAS 北大核心 2010年第12期133-136,共4页 Experimental Technology and Management
关键词 故障模型 HT46RU24 TTL CMOS 测试集 fault model HT46RU24 TTL CMOS test suite
  • 相关文献

参考文献6

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二级参考文献3

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  • 3赵悦,唐毅谦,佟玉军,褚丽莉.数字电路板故障测试系统[J].辽宁工学院学报,2003,23(1):29-30. 被引量:2

共引文献30

同被引文献53

引证文献8

二级引证文献34

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