面源均匀性对γ谱仪探测效率的影响分析

目的研究面源均匀性对探测效率的影响。方法使用偏差分布和积分均匀性两种方法表征两块241Am面源的均匀性,并对两块面源在不同高度进行实验测量其对探测效率的影响。结果两块面源都是一半放射性较强,一半放射性较弱;1#241Am面源和2#241Am面源积分均匀性分别为15.89%、12.12%,两块面源探测效率最大偏差为6(左右。结论面源均匀性对探测效率有一定的影响。