Raman Investigation of Damage in Si Induced by He-implantation
Raman Investigation of Damage in Si Induced by He-implantation
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1梁海滨.从日本电信业发展看3G时代运营商面临的挑战和对策[J].电信技术,2010(2):5-7. 被引量:3
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5黑龙江省节能监测中心[J].应用能源技术,2009,0(9).
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6黑龙江省节能监测中心[J].应用能源技术,2009(6).
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7黑龙江省节能监测中心[J].应用能源技术,2009,0(10).
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8黑龙江省节能监测中心[J].应用能源技术,2009,0(12).
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9黑龙江省节能监测中心[J].应用能源技术,2008(4).
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10发改委:多晶硅生产不存在高能耗和高污染[J].中国粉体工业,2009(6):49-49.