摘要
本文介绍了一种利用汞灯的干涉现象来测量透明薄片厚度的新方法。
This paper introduces a kind of interference phenomenon using mercury lamp to measure the thickness of thin transparent new methods.
出处
《大学物理实验》
2011年第1期26-28,共3页
Physical Experiment of College
关键词
等厚干涉
光程差
透明薄片
迈克尔逊干涉仪
thick interference
optical path difference
transparent chips
Michelson interferometer
