高效率测试MPW晶圆上的同类型芯片的方式

本文研究了如何运用优化测试程序的方式提高测试效率。列举了正常测试程序流程的不足,阐明了使用正常测试程序流程和改良后的测试程序流程的对比,采用新的测试方法,优化测试效率,进而降低了测试成本。