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高效率测试MPW晶圆上的同类型芯片的方式
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摘要
本文研究了如何运用优化测试程序的方式提高测试效率。列举了正常测试程序流程的不足,阐明了使用正常测试程序流程和改良后的测试程序流程的对比,采用新的测试方法,优化测试效率,进而降低了测试成本。
作者
杨晓寒
王浩
机构地区
无锡华润上华半导体有限公司设计服务中心
出处
《中国集成电路》
2011年第2期61-64,共4页
China lntegrated Circuit
关键词
MPW测试
IC测试
解决
改良
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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中国集成电路
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