期刊文献+

X射线布拉格-菲涅耳光学元件的实验研究 被引量:2

Experimental Investigation of X Ray Bragg Fresnel Optics
原文传递
导出
摘要 用光学全息方法在涂有光刻胶的多层膜表面上形成布拉格-菲涅耳元件所需的波带片图形,通过离子束刻蚀方法将波带片图形转写到多层膜上,完成元件的制作,给出布拉格-菲涅耳光学元件测量结果。测量结果表明上述方法适于制作布拉格-菲涅耳元件。 The multilayered X ray Bragg Fresnel optics is fabricated with the zone plate profile formed on the phptoresist on a surface of multilayer mirror by optical holography and followed by ion beam etching into the multilayer mirror. The meansured results of the fabricated Bragg Fresnel optics are presented. The measured results show that the method is suitable for making Bragg Fresnel optics.
出处 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第7期993-996,共4页 Acta Optica Sinica
基金 国家自然科学基金 863激光领域青年基金 应用光学国家重点实验室基金
关键词 X射线 布拉格-菲涅耳 光学元件 多层膜 波带片 X ray Bragg Fresnel optics, multilayer coating, zone plate, ion beam etching.
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献4

共引文献9

同被引文献13

  • 1闫宏,林祥芝,崔晓明,刘志渊,安宏林,刘尧根,刘弘度.单模光纤布拉格反射滤波器[J].光学学报,1994,14(4):381-388. 被引量:2
  • 2万华,陈新荣,吴建宏.利用严格耦合波方法研究多层介质膜光栅掩膜特性[J].中国激光,2005,32(9):1275-1280. 被引量:5
  • 3陈刚,吴建宏,陈新荣,刘全.镀铬基片全息光栅光刻胶掩模槽形参量光谱检测方法[J].中国激光,2006,33(6):800-804. 被引量:7
  • 4陈根祥,程美乔,葛璜,简水生,王圩.248 nm KrF准分子激光零级抑制石英相位掩模器的研制[J].中国激光,1997,24(7):623-626. 被引量:4
  • 5J. R. McNell, S. S. H Naqvi, S. M. Gaspar et al..Scatterometry applied to microelectronics processing-part 1 [J].Solid State Technol. , 1993, 36(3):29-30, 32
  • 6S. Sohail H. Naqvi, John R. McNeil, Richard H. Krukar et al.. Grating parameter estimation using scatterometry [C].SPIE, 1993, 1992:170-180
  • 7Conrad, Edward W. Paul, David P. et al.. Method and apparatus for measuring the profile of small repeating lines [P].United States Patent 5,329,963, 1999
  • 8Hsu-Ting Huang, Fred L. Terry Jr.. Spectroscopic ellipsometry and reflectometry from gratings (scatterometry)for critical dimension measurement and in situ, real-time process monitoring [J]. Thin Solid Films, 2004, 455-456:828-836
  • 9Xinhui Niu, Nickhill Jakatdar, Junwei Bao et al.. Specular spectropic scatterometry [J]. Transactions on Semiconductor Manufacturing, 2001, 14(2):97- 111
  • 10Susan M. Gaspar Wilson, S. Sohail H. Naqvi, John R. McNeil et al.. Metrology of etched quartz and chrome embedded phase shift gratings using scatterometry [C]. SPIE, 1995, 2439:479-494

引证文献2

二级引证文献7

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部