数显卡尺测量不确定度分析

在实际应用中出现的数显卡尺测量误差是由定栅误差和卡尺本身制造误差（零件的形状和位置误差）、使用引起的误差（测量力引起的误差、不准确的测量引起的误差）以及其它各种偶然原因导致的误差影响的。