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Multitest将在SEMICON China 2011期间举办“测试成本高级研讨会”

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摘要 Multitest宣布其将在SEMICON china 2011期间举疗“测试成本高级研讨会”，会议定于3月16日在W2展厅的M2会议室举办。2010年SEMICON China展会将于3月15日至17日在上海新国际博览会中心举办。

出处《电子工业专用设备》 2011年第2期63-63,共1页 Equipment for Electronic Products Manufacturing

关键词 SEMICON 测试成本国际博览会会议室

分类号 TN3-28 [电子电信—物理电子学]

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电子工业专用设备

2011年第2期

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