摘要
在r面蓝宝石(Al2O3)衬底上生长了非极性掺硅的a面GaN薄膜,用光致发光(PL)谱,高分辨X射线衍射仪(HRXRD),原子力显微镜(AFM),和霍尔测量研究了材料的光学和电学性质.结果表明,Si的掺入会使材料的结晶质量和形貌出现微小的退化.黄带也随着SiH4流量的增加而提高.但是随着硅的掺入,材料迁移率极大提高,这种现象主要是由于镓空位(VGa)被填补引起的.
出处
《中国科学:技术科学》
EI
CSCD
北大核心
2011年第2期234-238,共5页
Scientia Sinica(Technologica)
基金
国家科技重大专项(批准号:2008ZX01002-002)
国家自然科学基金重大项目(批准号:60890191)
国家自然科学基金重点项目(批准号:60736033)
中央高校基本科研业务费专项资金(批准号:JY10000904009)资助