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组装EUVL实验设备研究的最新成果
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摘要
1 前言先进微电子器件加工中,投影光刻不断地获得越来越小的极限尺寸。为了克服光衍射的限制,已经设计出具有较大数值孔径和较短工作波长的先进光刻机。到2007年工作波长将缩短到13nm左右的极紫外(EUV)波长。
作者
金春生
出处
《光机电信息》
1999年第7期13-18,共6页
OME Information
关键词
EUVL
投影光刻
实验设备
微电子器件
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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光机电信息
1999年 第7期
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