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基于DDS与MCU的电参数测量系统设计 被引量:5

The design of electric parameter measurement system based on DDS and MCU
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摘要 提供了一种采用可编程DDS芯片和MCU实现自动测量RLC参数的测量系统。系统以C8051F120MCU为控制核心,通过DDS模块产生测试用正弦波,利用电抗元件串联分压原理,实现对电阻、电容、电感的精确测量。系统以液晶屏显示测量结果,并可根据需要打印测量的结果。测量系统结构简单,并进行了抗干扰设计,具有较好的抗干扰能力,保证系统可靠工作。 A realization of measurement system is provided by using the programmable DDS chip and MCU to carry out the automatic measurement to the RLC parameter.With C8051F120 MCU as control core,through DDS module generating sine wave,following the circuit reactance components series partial pressure principle,the system realizes the precise measurements for the resistor,capacitor and inductor.The system uses the LCD to show measurement results,and can print measurement results according to the need.This measurement system is not complicated structured and has conducted anti-interference design to insure its better anti-interference ability and to guarantee its reliability.
作者 李林
出处 《国外电子测量技术》 2011年第2期47-49,66,共4页 Foreign Electronic Measurement Technology
关键词 DDS 电阻电容电感测量 抗干扰 DDS resistance capacitance measurement antijaming
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