长期储存试验中的非参数统计方法

本文扼要介绍了把Kaplan－Meier非参数统计理论应用于军用少量样品的长期储存试验中的基本方法的步骤，在不作寿命分布形式假定的前提下，仅从少量失效数来推断试样的可靠性特征，并对不同环境下的试验结果，给出储存试验寿命是否有差异的统计验证方法。这些方法均在计算机上给出数值分析结果。