摘要
本文作者所设计的实验是利用光学中全反射衰减特性方法测量在介质上蒸镀的金属薄膜的厚度和各种频率下的复介电常数等物理性质，它可以精确测定１００～１０００范围内金属膜层的厚度和ε（ω）值，以及一些其它性质，是研究固体表面物理的一种有效的方法和技术。
The experiment designed is for determination of the physical property,the thickness and so on ,of the metallic film by using the method of optical attenuated tatal reflection.It is an effective method and technigue for analyzing the solid surface physics.
出处
《南昌航空工业学院学报》
CAS
1999年第2期57-61,共5页
Journal of Nanchang Institute of Aeronautical Technology（Natural Science Edition）
关键词
衰减全反射
耦合共振
金属
薄膜
表面物理
Attenuated total reflection
Coupling resonance
Metallic film
Surface physics
Angular scanning
