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集成电路的检测方法 被引量:2

The Examination Method of the Integrated Circuit
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摘要 电子技术的发展,使集成电路的应用越来越广。那么,这对电子电路的检修与排除故障带来了一定的困难,因此,在检修电路时,就会遇到检测集成电路的问题。 Electronics technical development,make the application of the integrated circuit more and more wide.So,this fixs and expels to break down to the check of the electronics electric circuit and will bring a certain difficulty,therefore,while checking to fix electric circuit,will meet a problem of examine the integrated circuit.
作者 吕俊霞
出处 《电子质量》 2011年第3期10-12,共3页 Electronics Quality
关键词 集成电路 电子元件 测量 故障 The integrated circuit the electronics component measure break down
  • 相关文献

参考文献2

  • 1邓小生.电子技能训练[M].北京:机械工出版社,2002,9.
  • 2慧玲.电子技术实验-低频、高频、数字、集成[M]北京:机械工业出版社,2004,2.

同被引文献4

引证文献2

二级引证文献4

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