一种新型电阻率仪——高分辨率测向测井仪的基本原理和分辨率

高分辨率侧向测井仪（ＨＤＬＬ＾ＳＭ）是西方阿特拉斯测井公司（ＷＡＬＳ）和壳牌国际勘探开发研究及技术服务公司（ＳＩＥＰ－ＲＴＳ）联合研制的新型电阻率阵列测井仪。该测井仪设计用来提供径向和纵向的高分辨率电阻率分布。ＨＤＬＬＩ则井仪使用单电流电极，可采集大量数据，它包括在发射电极不同距离 电极电位和电场。有了测量电场所需的高度，便可精确计算用于探测地层边界的二级电位差，通过ＨＤＬＬ数据反演。