摘要
综述了在半导体和金刚石中的正电子迁移率的６种不同测量方法（角关联方法、多普勒方法、寿命谱方法、注入剖面法、扩散常数法和慢正电子法），给出了自１９５７年以来国内外的所有测量数据。
Six kinds of positron mobility measurement methods(angular correlation,Doppler drift,lifetime,implantation profile,diffusion constant and slow positron beam) are reviewed,measurement data since 1957 is analysed.
出处
《物理》
CAS
1999年第7期429-433,共5页
Physics
基金
国家自然科学基金
关键词
正电子湮没
正电子迁移率
半导体
金刚石
Positron Annihilation, Positron Mobility Semiconductor,Diamond
