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用原子力显微镜4π旋转技术测量靶丸表面粗糙度 被引量:11

MEASUREMENT OF TARGET SURFACE ROUGHNESS WITH 4π TURNING TECHNOLOGY OF AFM
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摘要 原子力显微镜靶丸4π旋转装置,可以将靶丸在夹持状态下实现4π方向旋转,便于原子力显微镜对靶丸表面任一部分做扫描测量。应用该装置对各种靶丸的表面形貌进行了测量,测量结果表明,靶丸外表面粗糙度小于10nm,内表面粗糙度小于20nm。 In order to measure precisely the roughness of capsule surface, a 4 π turning device matching with AFM for microsphere is developed.The shell mounted on the 4 π turning device can be rotated in any angle, and anywhere of the target surface can be measured. With this equipment,various capsules are investigated and discussed.
出处 《强激光与粒子束》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第3期321-324,共4页 High Power Laser and Particle Beams
基金 国家863惯性约束聚变领域资助课题
关键词 原子力显微镜 靶丸 4π旋转 ICF靶 参数测量 AFM 4 π turning device of ICF microsphere parameters measurement of ICF target
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