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晶体硅光伏组件认证测试耐候性项目失效分析 被引量:1

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摘要 晶体硅光伏组件的失效通常分为三类:早期失效、随机失效、耗损失效。光伏组件认证测试所评定的失效是早期失效,通常情况下,该失效概率在组件制成后最大,以后随着时间的推移逐步减小。光伏组件早期失效中耐候性测试失败的比例较高,其中:湿一热试验,约占到总失效次数的42%
作者 钦卫国
出处 《认证技术》 2011年第4期53-54,共2页 CHINA QUALITY CERTIFICATION
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