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逻辑电路冒险现象及其逻辑代数判断法

A Logical Circuit Risk and the Logical Algebra Judgement Method
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摘要 针对逻辑电路中的冒险现象及其对电路的不良影响,利用波形图,分析并证明了判断逻辑电路冒险现象的逻辑代数法,从而降低了其问题的难度,使之更容易被理解与掌握。 Directed at the logical circuit risk and its negative influence on circuit,the paper, depending on waveform graphs, provides a detailed analysis of algebra method for the logical circuit risk. The analysis helps to reduce the difficulty and realize easier understanding and grasp.
出处 《黑龙江矿业学院学报》 1999年第3期31-34,共4页
关键词 电路 过渡过程 冒险现象 逻辑电路 逻辑代数判断 circuit, procedure, critical competition, risk
  • 相关文献

参考文献2

  • 1康华光.数字电子技术基础[M].北京:高等教育出版社,1998.184-188.
  • 2阎石.数字电子技术基础[M].北京:高等教育出版社,1997.174-178.

共引文献18

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